LAP-S1000噴霧全自動激光粒度分析儀
產(chǎn)品名稱：LAP-S1000噴霧激光粒度測定儀
技術標準：ISO13320-1：1999，GB/T19077.1-2008
測試范圍: 1μm～1000μm
探測單元：66
激光類型:進口光纖半導體激光器
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LAP-S1000采用分體式設計，適用范圍更加寬泛。性能更加穩(wěn)定、量程更大、適應各種復雜的測試環(huán)境，同時LAP-S1000進行了防塵處理。
LAP-S1000噴霧激光粒度分析儀主要性能特點：
LAP-S1000采用了分體式結構，可測試遠距離樣品，LAP-S1000采用了大平臺，即使
一體式使用也能滿足0.1米到10米的距離上正常測試
*的光路設計：LAP-S1000采用了夫瑯禾費衍射原理和典型的平行光路設計，配備了大功率的半導體激光器；*的高密度探測單元，讓LAP-S1000擁有了*的小顆粒測試能力，LAP-S1000在1μm～1000μm內(nèi)無縫測試。同時LAP-S1000又加入了光路自動調(diào)整裝置，方便操作的同時又延長了儀器的適用壽命。
大功率半導體激光器：LAP-S1000采用了大功率的半導體激光器，增強了儀器的分辨能力，使小顆粒也無處藏身。
光路自動校對：LAP-S1000在噴霧粒度儀中**加入了自動對中功能，LAP-S1000加入的光路自動調(diào)整系統(tǒng)，保證了儀器測量的穩(wěn)定性、準確性。同時大量減少操作者的工作強度。
進口鏡頭：LAP-S1000采用了日本佳能作為主鏡頭，畸變小成像高，接收端采用了直徑150毫米大口徑長焦距鏡頭，顆粒探測更加。
超寬量程：LAP-S1000量程達到了1μm～1000μm。
輔光定位：LAP-S1000加入了輔光定位功能，定位時發(fā)射端兩束激光同時發(fā)出，接收端雙點吻合后接收端即可啟動光路自動調(diào)整系統(tǒng)，大大簡化了調(diào)整難度。噴霧激光粒度分析儀
強大的分析軟件：強大的分析軟件可以隨時記錄所有激光束的內(nèi)所有霧滴的粒度分布。在激光束內(nèi)移動噴霧測試結果可以被連續(xù)記錄和統(tǒng)計分析。
主要技術參數(shù)：
規(guī)格型號 | LAP-S1000 | |
執(zhí)行標準 | ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008 | |
測試范圍 | 1μm-1000μm | |
探測器通道數(shù) | 66 | |
準確性誤差 | <1%（國家標準樣品D50值） | |
重復性誤差 | <1%（國家標準樣品D50值） | |
進樣方式 | 開放式進樣 | |
儀器結構 | 一體式或分體式可選 | |
分體式導軌（選配） | 分體式儀器，測試區(qū)域在3米以內(nèi)可以選配導軌 | |
激光器參數(shù) | 進口光纖輸出大功率激光器 λ= 650nm, 功率1-40mw可調(diào) | |
關鍵參數(shù) | 測量區(qū) | 分體式：儀器0.1到10米范圍可正常測試 |
一體式：儀器100mm到340mm | ||
鏡頭 | 佳能高性能鏡頭 | |
鏡頭保護 | 氣幕保護 | |
進樣方式 | 噴射（包含霧滴和固體粉末） | |
自動對中 | 儀器自動調(diào)整光路，電腦軟件一鍵自動完成。 | |
軟件功能 | 分析模式 | 包括自由分布、R-R分布和對數(shù)正態(tài)分布、按目分級統(tǒng)計模式等，滿足不同行業(yè)對被測樣品粒度統(tǒng)計方式的不同要求 |
統(tǒng)計方式 | 體積分布和數(shù)量分布，以滿足不同行業(yè)對于粒度分布的不同統(tǒng)計方式 | |
統(tǒng)計比較 | 可針對多條測試結果進行統(tǒng)計比較分析，可明顯對比不同批次樣品、加工前后樣品以及不同時間測試結果的差異，對工業(yè)原料質(zhì)量控制具有很強的實際意義 | |
自行DIY | 用戶自定義要顯示的數(shù)據(jù)，根據(jù)粒徑求百分比、根據(jù)百分比求粒徑或根據(jù) | |
顯示模板 | 粒徑區(qū)間求百分比，以滿足不同行業(yè)對粒度測試的表征方式。徑距、一致性、區(qū)間累積等等 | |
測試報告 | 測試報告可導出Word、Excel、圖片（Bmp）和文本（Text）等多種形式的文檔，滿足在任何場合下查看測試報告以及科研文章中引用測試結果 | |
多語言支持 | 中英文語言界面支持，還可根據(jù)用戶要求嵌入其他語言界面。 | |
操作模式 | 電腦操作 | |
測試速度 | <1min/次 | |
重量 | 25Kg | |
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